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Spectrométrie de fluorescence X (XRF)

 

Le principe

La spectrométrie de fluorescence X (SFX ou FX, ou en anglais XRF pour X-ray fluorescence) est une méthode d'analyse chimique utilisant une propriété physique de la matière, la fluorescence de rayons X.
Lorsque l'on bombarde de la matière avec des rayons X, la matière réémet de l'énergie sous la forme de photons ; c'est la fluorescence X, ou émission secondaire de rayons X.
Le spectre des rayons X émis par la matière est caractéristique de la composition de l'échantillon, en analysant ce spectre, on peut en déduire la composition élémentaire, c'est-à-dire les concentrations massiques en éléments.
 

Pour répondre à vos besoins en spectrométrie de fluorescence X, Cegelec NDT-PES vous propose une offre globale :

  • Analyse portable : X-MET8000
  • Bulk : LAB-X3500 et X-Supreme8000
  • Coating : X-Strata 980 et 920
 
Plus d'informations sur le site Internet de notre partenaire Oxford Instruments.